CLJ-E型塵埃粒子計數器

簡單描述
CLJ-E型塵埃粒子計數器
的技術指標均滿足國家計量總局頒布的JJF1190-2008檢定規程的要求，功能采用美國微電腦控制處理技術及上SMT芯片貼片封裝技術和半導體激光傳感器技術及防噪聲氣泵，可直接打印檢測結果。具有功能多、測量精度高、速度快、便于攜帶和操作簡單等特點。
更新時間： 2025-09-22
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CLJ-E型塵埃粒子計數器的技術指標均滿足國家計量總局頒布的JJF1190-2008檢定規程的要求，功能采用美國微電腦控制處理技術及上SMT芯片貼片封裝技術和半導體激光傳感器技術及防噪聲氣泵，可直接打印檢測結果。具有功能多、測量精度高、速度快、便于攜帶和操作簡單等特點。

CLJ-E型塵埃粒子計數器一次采樣可同時測得多種粒徑的塵埃粒子數，并能選擇觀察其中某一粒徑粒子的數目及其變化情況，對于研究、檢測和評價各種潔凈環境都十分方便。該系列儀器性能設計、質量穩定可靠

產品已被廣泛應用于潔凈室檢測；過濾器現場檢測、撿漏；可監測超凈工作臺、生物安全柜，HVAC系統，計算機室、飲料包裝環境，醫療器械生產環境，醫院潔凈手術室，汽車噴涂環境微電子、制藥、生化制品、食品衛生、精細化工、精密機械和航空航天等生產和科研部門，是制藥企業及其監督管理部門貫徹GMP規范及電子生產企業的you選儀器。

主要技術參數及性能：
1.光源:半導體激光光源
2.采樣量: 2.83L/min(0.1cfm/min)
3.檢測范圍: 100級～100萬級
4.允許被測試空氣的含塵濃度≯10 萬顆/2.83L
5.粒徑通道: 0.3 0.5 1.0 3.0 5.0 10.0（μm）六檔
6.顯示或打印可將2.83升/分內所含顆粒轉換成1m3所含顆粒數。
7.采樣周期: 1～10 (min)
8.自凈時間: ≤15 (min)

9.校準：可追溯美國國家標準技術協會（NIST），我公司已通過國家計量建標考核，可追溯至上海計量測量技術研究院可自行進行校準或第三方國家計量機構進行校準
10.工作環境: 溫度:10～35℃ 相對溫度:20～75%RH
11.zui大功耗: 25W
12.測量溫度和濕度的范圍與精度：（選購）
（1）溫度：0～50℃±1℃
（2）濕度：0～100%RH±5%
13.采樣點數 2～7點設定